三极管元器件筛选机构

三极管元器件筛选机构

环测检测是专业第三方元器件二次筛选机构，实验室具备GJB128A-1997标准CNAS检测资质和检测能力，可提供三极管元器件筛选服务，并可出具权威认可的第三方元器件二次筛选检测报告。

检测依据

GJB 128A-1997 《半导体分立元器件试验方法》

三极管元器件筛选程序

外观初查─→常温初测─→高温贮存─→温度循环─→常温测试─→功率老炼─→常温测试─→高温反偏（PNP硅管做）─→常温测试─→高温测试（有要求时）─→低温测试（有要求时）─→常温复测─→外观复查─→打印标记。

三极管元器件筛选项目及要求

1. 外观初查目视或用5～10倍放大镜检查下列项目：

a) 管脚不应有机械损伤、断裂、锈蚀等现象；

b) 管帽不应有变形、颈缩、严重掉漆、开裂等现象；

c) 产品型号、出厂日期等标志应清楚、正确。

2. 常温初测在室温下，按产品规范或协议要求进行测试，电参数应符合规定。用图示仪观察输出特性曲线及击穿特性曲线，剔除曲线明显不均匀及有软击穿、分段击穿等异常现象的三极管。

3. 高温贮存高温贮存条件和时间如下表所示：

4. 常温测试筛选试验结束后的常温测试均要求在室温下放置2h后进行。5. 温度循环试验方法按GJB 128A方法1051执行，其中保持时间为30min，转换时间小于1min。温度循环条件如下表所示：

6. 功率老炼6.1 中小功率三极管在常温下老炼，老炼时间：24 h。老炼功率一般取（1～1.2）PCM。老炼功率中电流与电压的分配原则如下：电压Vce=K·V(br)ceo，其中K值如下表所示：

电流 Ic=Pcm/Vce6.2 大功率三极管在常温下老炼，老炼时间：12 h。老炼功率一般取（0.7～1）PCM。老炼电流：Ic=（1/2～1/3）ICM。大、中、小功率三极管功率老炼时，应考虑老炼功率的选取不应使管芯温度超过TjM。

7. 高温反偏（PNP硅管做）试验方法按GJB 128A方法1039条件A执行。在125℃±3℃温度下，PNP硅管CB结加V(BR)CBO电压的80％，保持24h。漏电流不超过标准值。

8. 高温测试(有要求时)测试温度100℃或按照器件技术规范或技术协议。测试温度下的保温时间按照5.4执行。合格判据按照产品规范或技术协议执行。

9. 低温测试(有要求时)测试温度-55℃或按照器件技术规范或技术协议。测试温度下的保温时间按照5.4执行。合格判据按照产品规范或技术协议执行。

10. 常温复测同2.。

11. 外观复查目视或用5～10倍放大镜检查下列项目：

a) 管脚不应有机械损伤、断裂、锈蚀等现象；

b) 管帽不应有变形、颈缩、严重掉漆、开裂等现象；

c) 产品型号、出厂日期等标志应清楚、正确。

12. 打印标记凡经筛选合格的三极管均按相关文件规定打印筛选标记。

我们的优势

1. 专家团队可靠性检测专家、定制化服务、专业人员技术培训服务，拥有多名航空、航天电子元器件质量可靠性专组成的专家团队50余人。2. 专业设备配备各种规格的集成电路测试系统，老炼箱50余台、各类环境箱体20台套、机械性能与可靠性检测设备30台套、半导体分立器件测试系统、模拟器件测试系统、检漏系统、PIND颗粒碰撞检测设备等。3. 一站式方案服务依据客户产品规格，准确制定元器件的筛选方案和规程\依据筛选结果，准确定位元器件失效机理，并依据客户需求给出元器件失效分析方案。4. 权威保障军用级检测体系控制+军方实验室认可检测设备，保证测试流程和测试精度，第三方公正检测机构。                        <