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TYPE C连接器温升测试机构
TYPE C连接器温升测试机构
温升测试是用来测量电子设备在工作条件下的温度升高情况的一种测试方法。在许多情况下,这种测试被用来评估电子设备在正常工作条件下是否会发生过热,以及过热会对设备造成怎样的影响。随着快充逐步发展,对TYPE C连接器额定电流等级也越来越高,各大终端对TYPE C连接器的温升测试也越来越重视。环测检测认证是专业第三方电子电器检测实验室,可提供TYPE C连接器温升测试服务,并出具权威认可的第三方检测报告。
TYPE C连接器温升测试方法
连接器温升测试是通过在连接器端加载规定的额定电流,用温控记录仪来收集温度变化的一项实验。测试设备负载仪:实现恒流温度记录仪:监测温度直流电源:输出电流测试条件依据USB TYPE C 协会规定要求:温升测试,△T值:30 ℃ Max额定电流依据客户要求,一般为3A,5A,8A,10A或其它客户要求。
影响连接器温升测试结果的因素主要有:
1. 电源导体线径是否合适,太细会导致升温过快过高,影响最终实际结果,造成误判;
2. 母座PCB铜箔粗细是否合适,原理同上;
3. 实验环境是否稳定,需置于无空气流动之环境,必要时使用防护罩;
4. 感温线贴合是否OK,可以采用高温胶布,有条件者,可以使用温升胶固定;5. 材料的选型,导电率越高的金属,温升值会越小。
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