AECQ200测试项目

作者：环测检测发布时间：2023-07-14 17:14:26

AEC-Q200是车规无源器件应力测试标准，AEC-Q200认证是被动元件汽车级品质认证，被动元器件厂家要进入汽车领域，必须要通过AECQ200测试。广东环测检测是专业第三方AEC-Q200认证测试机构，接下来为大家介绍AECQ200测试项目。

AECQ200测试项目

AEC-Q200 REV D标准TABLE 1定义了AECQ200的所有测试项目及样品数量要求，TABLE 2 - TABLE 14分别针对不同的产品定义了测试项目及测试要求。

TABLE 1 - QUALIFICATION SAMPLE SIZE REQUIREMENTS表1-认证测试样品数量要求
Stress应力方式	NO.	Note注释	Sample Size Per Lot样品数/批	Number of lots批次	Accept on Number failed接受标准
Pre-and Post-Stress Electrical Test应力测试前后电气测试	1	G	All qualification parts submittedfor testing提交测试的所有合格零件		0
High Temperature Exposure 高温存储	3	DG	77Note B	1	0
Temperature Cycling温度循环	4	DG	77Note B	1	0
Destructive Physical Analysis破坏性物理分析	5	DG	10Note B	1	0
Moisture Resistance湿度抵抗	6	DG	77Note B	1	0
Humidity Bias偏高湿度	7	DG	77Note B	1	0
High Temperature Operating Life高温工作寿命	8	DG	77Note B	1	0
External Visual外观	9	NG	All qualification parts submitted所有提交认证的产品		0
Physical Dimensions尺寸	10	NG	30	1	0
Terminal Strength端子强度	11	DGL	30	1	0
Resistance to Solvent溶剂抵抗	12	DG	5	1	0
Mechanical Shock机械冲击	13	DG	30Note B	1	0
Vibration 振动	14	DG	30Note B	1	0
Resistance to Solder Heat 抗焊接热	15	DG	30	1	0
Thermal Shock 热冲击	16	DG	30	1	0
ESD 静电放电	17	D	15	1	0
Solderability 可焊性	18	D	15 each condition每种条件	1	0
Electrical Characterization电气特性	19	NG	30Note A 注意事项A	3	0
Flammability 可燃性	20	D	Present certificate of compliance提供合格证明书
Board Flex 板弯曲	21	DS	30	1	0
Terminal Strength (SMD)端子强度（表面贴装元件）	22	DS	30	1	0
Beam Load 射束负载（断裂强度）	23	DG	30	1	0
Flame Retardance阻燃测试	24	DG	30	1	0
Rotation Life 旋转寿命	25	DG	30	1	0
Surge Voltage 浪涌电压	27	DG	30	1	0
Salt Spray 盐雾测试	29	DG	30	1	0
Electrical Transient Conduction瞬时电传导	30	DG	30	1	0
Shear Strength 剪切强度	31	DG	30	1	0
Short Circuit Fault Current Durability短路失效电流持久性	32	DG	30	1	0
Fault Current Durability失效电流持久性	33	DG	30	1	0
End-of-Life Mode Verification寿命终止模式验证	34	DG	30	1	0
Jump Start Endurance助推启动持久性	35	DG	30	1	0
Load Dump Endurance突缷负荷持久性	36	DG	30	1	0

LEGEND FOR TABLE 1 表1说明Note:A For parametric verification data, sometimes circumstances may neccessitate the acceptance of only one lot by the user. Should a subsequent user decide to use a previous user's qualification approval, it will be the subsequent user's responsibility to verify an acceptable number of lots were used.

对于参数验证数据，有时情况可能需要用户仅接受一个批次。如果后续用户决定使用先前用户的资格认证，则后续用户将负责验证使用的批次数量是否可接受。B Where generic (family) data is provided in lieu of component specific data, 3 lots are required.如果提供通用（系列）数据代替部件特定数据，则需要3批。H Required for hermetic packaged devices only.仅适用于密封包装设备。L Required for leaded devices only.仅限含铅设备。N Nondestructive test, devices can be used to populate other tests or they can be used for production.

无损检测，设备可用于填充其他测试或用于生产。D Destructive test, devices are not to be reused for qualification or production.破坏性试验，设备不得重复用于鉴定或生产。S Required for surface mount devices only.仅适用于表面安装设备。G Generic data allowed. See Section 2.3.允许通用数据。见第2.3节。