元器件二次筛选常见方法

作者：环测检测发布时间：2023-07-17 15:38:31

元器件二次筛选是检验元器件批合格率、质量一致性的重要手段。二次筛选可淘汰由于制造缺陷造成的早期失效产品，提高器件整批使用可靠性。广东环测检测是专注电子元器件检测15年的专业第三方元器件二次筛选机构，接下来为大家介绍元器件二次筛选常见方法。

筛选试验可分为常规筛选(如密封性筛选) 和特殊环境筛选(如抗辐射、盐雾等) 。常归筛选方法主要有如下几种：

1.检查筛选检查筛选可采取镜检、红外线筛选、X 射线筛选。红外线筛选可以剔除体内或表面热缺陷严重的器件，X 射线筛选主要用于检查管壳内有无外来物和装片、键合或封装工序的缺陷以及芯片裂纹。

2.密封性筛选(如气泡法、氦质谱仪法、放射性气体、示踪检漏法) ，用于剔除管壳及密封工艺中所在的缺陷（如裂纹、微小漏孔、气孔以及封装对位欠佳）。

3.环境应力筛选(如振动加速度、冲击加速度、离心加速度、温度循环和热冲击等) ；

4.寿命筛选(高温贮存、低温贮存、老练筛选、精密筛选、线性判别) ；

5.电测试筛选(对晶体管的补充手段) 。实际中也常采用物理筛选(非破坏性的) 和老练筛选(破坏性的) 相结合的方式进行。老练筛选效果好但成本高，物理筛选虽成本低，但效果差。

我司可提供以下电子元器件二次筛选服务

电子元件：电阻、电容、电感、继电器、磁珠、变压器、晶体振荡器、晶体谐振器、继电器、电连接器等；

半导体分立器件：二极管、三极管、MOS管、IGBT等；

半导体集成电路：CPU、存储器、FPGA、AD/DA、数字电路、模拟电路、混合电路、DC/DC等；

电子模块：电源模块、通讯模块、控制模块等具备相对功能完整电路。