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GJB元器件二次筛选

作者:环测检测 发布时间:2023-08-03 17:17:20

环测检测认证专注电子元器件检测近20年,实验室具备电子元器件IEC标准、国标 、国军标、美标等各体系标准检测资质和检测能力,可开展GJB元器件二次筛选服务。

GJB元器件二次筛选常用标准

GJB150.1A-2009 《军用装备实验室环境试验方法 第1部分: 通用要求》

GJB150.2A-2009 《军用装备试验室环境方法 第 2 部分:低气压(高度)试验》

GJB150.3A-2009 《军用装备试验室环境方法 第 3 部分:高温试验》

GJB150.4A-2009 《军用装备试验室环境方法 第 4 部分:低温试验》

GJB150.5A-2009 《军用装备试验室环境方法 第 5 部分:温度冲击试验》

GJB150.6 《军用设备环境试验方法 温度—高度试验》

GJB150.9A-2009 《军用装备试验室环境方法 第 9 部分:湿热试验》

GJB150.11A-2009 《军用装备试验室环境方法 第 11 部分:盐雾试验》

GJB150.14A-2009 《军用装备实验室环境试验方法 第 14 部分:浸渍试验》

GJB150.15A-2009 《军用装备实验室环境试验方法 第 15 部分:加速度试验》

GJB 360B-2009 《电子及电气元件试验方法》

GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》

GJB 33A-1997 《半导体分立器件总规范》

GJB 5018-2001 《半导体光电子器件筛选与验收通用要求》

GJB 597B-2012 《半导体集成电路通用规范》......

GJB元器件二次筛选范围

电子元件:电阻、电容、电感、继电器、磁珠、变压器、晶体振荡器、晶体谐振器、继电器、电连接器等;

半导体分立器件:二极管、三极管、MOS管、IGBT等;

半导体集成电路:CPU、存储器、FPGA、AD/DA、数字电路、模拟电路、混合电路、DC/DC等;

电子模块:电源模块、通讯模块、控制模块等具备相对功能完整电路。

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我们的优势

1. 可靠性检测专家、定制化服务、专业人员技术培训服务,拥有多名航空、航天电子元器件质量可靠性专组成的专家团队50余人。

2. 配备各种规格的集成电路测试系统,老炼箱50余台、各类环境箱体20台套、机械性能与可靠性检测设备30台套、半导体分立器件测试系统、模拟器件测试系统、检漏系统、PIND颗粒碰撞检测设备等。

3. 依据客户产品规格,准确制定元器件的筛选方案和规程\依据筛选结果,准确定位元器件失效机理,并依据客户需求给出元器件失效分析方案。

4. 保证测试流程和测试精度,第三方公正检测机构。  


办理GJB元器件二次筛选,请联系第三方元器件二次筛选机构-环测检测认证。 我们将以优惠的价格和周到的服务为您提供专业高效的检测认证服务。 如果您向我们提供产品图片和规格,我们将根据您的产品给出相应的周期、报价和具体方案。 欢迎您来电咨询! 

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