​元器件筛选的目的

元器件筛选分为生产筛选（即一次筛选）和补充筛选（即二次筛选），元器件筛选是根据产品固有质量特性和装备可靠性要求，通过一系列非破坏性试验，剔除不满足使用要求的元器件的检验过程。

元器件筛选的科学依据

电子元器件有效工作寿命就是它的可靠性，即它能够正常完成某一特定电气功能的时间。电子元器件失效的过程通常是这样的：随着时间的推移或工作环境的变化，元器件的规格参数发生改变，例如电阻器的阻值变大或变小，电容器的容量减小等。当它们的规格参数变化到一定限度时，尽管外加工作条件没有改变，却也不能承受电路的要求而彻底损坏，使它们的特性参数消失，例如二极管被电压击穿而短路，电阻因阻值变小而超负荷烧断等。

显然，这是一个“从量变到质变”的过程。电子元器件的失效率是时间的函数。统计数字表明，新制造出来的电子元器件，在刚刚投入使用的一段时间内，失效率比较高，这种失效称为早期失效。电子元器件的早期失效，是由于在设计和生产制造时选用的原材料或工艺措施方面的缺陷而引起的。它是隐藏在元器件内部的一种潜在故障，在开始使用后会迅速恶化而暴露出来，元器件的早期失效是十分有害的，但又是不可避免的。

在经过早期失效期以后，电子元器件将进入正常使用阶段，其失效率会显著地迅速降低，这个阶段叫做偶然失效期。在偶然失效期内，电子元器件的失效率很低，而且在极长的时间内几乎没有变化，可以认为它是一个小常数。在经过长时间的使用之后，元器件可能会逐渐老化，失效率又开始增高，直至寿命结束，这个阶段叫做老化失效期。电子元器件典型的失效率函数曲线如图1 所示，其变化的规律就像一个浴盆的剖面，所以这条曲线常被称为“浴盆曲线”。

元器件筛选的原理

电子元器件筛选的原理是给电子元器件施加热的、电的、机械的或者多种结合的外部应力，模拟恶劣的工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，然后进行电气参数的测量，筛选剔除了那些失效或变值的元器件，尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。

元器件筛选的目的

1. 剔除早期失效产品

2. 提高产品批次使用的可靠性

环测检测认证专注电子元器件检测十五年，具备半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件及外壳等元器件的筛选老化能力。可开展电子元器件二次筛选、元器件破坏性物理分析（DPA）、元器件失效分析（FA）、元器件安规认证等元器件检测认证服务。