该试验检查芯片长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求，仅针对非密封封装（塑料封装），带偏置（bHAST）和不带偏置（uHAST）的测试。温度、湿度、气压、测试时间➢ 通常选择HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大气压，96hour