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  • 该试验检查芯片长期贮存条件下,高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求,仅针对非密封封装(塑料封装),带偏置(bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。温度、湿度、气压、测试时间➢ 通常选择HAST-96,即:130℃、85%RH、230KPa大气压,96hour

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