常见元器件二次筛选项目及检测标准

电子元器件的二次筛选是指在元器件厂家筛选的基础上，由使用方或其委托的第三方对电子元器件进行的筛选。二次筛选是在电子元器件各种失效模式的基础上，进行的一系列有针对性的试验，从而达到有效剔除早期失效的目的。

环测检测是获得CNAS、DILAC等实验室资质认可的专业第三方电子元器件检测机构，可提供集成电路、分立器件以及电阻电容电感元件等各类电子元器件二次筛选服务，根据客户产品的特点以及相应要求，公司能够为企业提供定制化服务。接下来为大家介绍常见元器件二次筛选项目及检测标准。

常见电子元器件的二次筛选检测项项目

1、检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、X射线非破坏性检查等

2、密封性筛选：浸液检漏筛选、氦质谱仪检漏筛选、放射性筛选、气泡筛选、气泡法、示踪检漏法等

3、环境应力筛选：高温老化、温度循环、温度冲击、正弦扫频、随机振动、冲击、离心加速度等

4、寿命筛选：高温贮存、低温贮存、老炼筛选、精密筛选、线性判别等

5、电测试筛选等

筛选检测参照的标准及方法

1. 检测通用标准：GJB360B、GJB128、GJB548、GJB4027、GJB1217、 MIL-STD-1580(MIL-STD-1580B)、MIL-STD-202, MIL-STD-750(MIL-STD-750E:2006)、MIL-STD-883(MIL-STD-883K:2016)

2. 通用检测规范：GJB924A2 类瓷介固定电容器、GJB973A 柔软和半硬射频电缆通用规范、GJB7704 军用 CPU 测试方法、GB/T17574、GB/T17940、GB/T4586、GB/T4587、GB/T6571、GB/T 10320、GB/T 21548、GB/T 3048、GB/T 15175、GB/T 6571、GB 7247.13-2013/IEC60825-13:2011(IDT)

3. 专用参数测试类规范：GB/T7922、GB/T31359、GB/T14077、GB/T26184、GB/T27662、GB/T11168、GB/T17736、GB/T13739、GB/T26178、GB/T11297、GB/T1031、GB 1185、JB/T 9495、GJB 1487、GJB894A、NASA/TP-2003-212244、OJ10005A、SJ20762

4. 检测能力非标准方法：GB/T6798、SJ/T10738、GB/T 4377、GB/T 14028SJ/T10741、SJ/T10735