AEC-Q200高温存储测试介绍

作者：环测检测发布时间：2023-07-24 17:24:29

钽电容、陶瓷电容、铝电解电容、电感、变压器、晶振等车规电子元器件AEC-Q200认证均需要进行高温存储测试，AEC-Q200高温存储测试依据MIL-STD-202 Method 108方法进行测试，接下来为大家介绍AEC-Q200高温存储测试。

AEC-Q200高温存储测试目的

进行高温存储试验的目的是确定零件在执行其操作功能时，在规定时间内暴露于高温环境中对零件电气和机械特性的影响。

本试验方法不适用于以操作次数表示寿命的零件。有时可通过目视检查确定该试验导致的劣化迹象；然而，通过暴露之前、期间或之后的测量或测试，可以更容易地确定影响。浪涌电流、总电阻、介电强度、绝缘电阻和电容是显示暴露于高温环境下有害影响的测量类型。

AEC-Q200高温存储测试步骤

试样安装试样应按照规定的正常安装方式进行安装。当同时对多组试样进行试验时，试样之间的安装距离应符合各组的规定。如果未规定距离，则安装距离应足以将一个试样的温度影响另一个试样温度的程度降至最低。不同材料制成的试样可能会相互产生不利影响并改变本试验的结果，因此不得同时进行试验。试验温度试样应经受以下试验温度之一，并具有规定的公差：对于仅在静止空气环境中对电阻器进行的试验，最大温度公差应为±5°C（±9°F）。

操作条件暴露期间应用于试样的试验电位、占空比、负载和其他操作条件（如适用）应符合规定。试验时间试样应符合以下规定的试验条件之一：注：本试验方法删除了试验条件E（1500小时试验）。测量应按照规定在暴露之前、期间或之后进行规定的测量。如果适用，当试样进行试验时，测量频率和进行测量的占空比部分应符合规定。

环测检测认证是专业AEC-Q200认证测试机构，实验室具备AEC-Q200标准全项测试能力，可提供钽电容、陶瓷电容、铝电解电容、电感、变压器、晶振等车规电子元器件AEC-Q200高温存储测试服务。